Перечень выполняемых типовых работ на уникальной научной установке «Комплексный оптоэлектронный стенд»:

Наименование услуги

Единица измерения

Время выполнения

Цена за

единицу

(руб.)/час

Примечание

Проведение экспериментов

-

-

-

При проведении экспериментов  необходимо присутствие экспертов НИУ ВШЭ – Санкт-Петербург  по используемому методу

Эксперименты с использованием различных комбинаций систем

исследование

по запросу

5180,00

Эксперименты по исследованию фото- и электролюминесценции, отражения, пропускания в спектральном диапазоне от 550 нм до 1700 нм с высоким пространственным и спектральным разрешением в диапазоне температур 5-298 К

Эксперименты по исследованию частотного отклика оптоэлектронных приборов и устройств

исследование

по запросу

5180,00

Исследование частотных характеристик оптоэлектронных приборов и устройств с использованием СВЧ-анализатора цепей до 43,5 ГГц

Эксперименты по исследованию фотолюминесценции образцов

исследование

по запросу

2600,00

Эксперименты по исследованию фотолюминесценции образцов с  использованием системы импульсной лазерной накачки с перестраиваемой длиной волны и переключаемой длительностью импульсов (спектральный диапазон возбуждения от  700 нм до 980 нм)  или с использованием непрерывной накачки YLF: Nd лазером (мощность 100мВт) с помощью системы синхронного детектирования фотолюминесценции

Эксперименты по исследованию фотолюминесценции образцов в диапазоне температур 5-298 К

исследование

по запросу

2600,00

Эксперименты по исследованию фотолюминесценции образцов с использованием автоматизированной гелиевой криостанции замкнутого цикла с помощью системы синхронного детектирования фотолюминесценции

Эксперименты с использованием криогенной азотной проб-станции с образцом в вакууме Simtrum Cryo600-190-OP4

исследование

по запросу

2600,00

Эксперименты по исследованию фотолюминесценции, электролюминесценции, фотоотклика в диапазоне температур -190..400 С и длин волн 200-2000 нм

Эксперименты с использованием узкополосных одночастотных волоконных лазерных модулей и/или оптических усилителей различных диапазонов

исследование

по запросу

2600,00

Эксперименты по исследованию добротности резонаторов с использованием перестраиваемых лазерных источников с шириной полосы менее 1 МГц для диапазонов длин вол 1064, 1310 и 1055 нм

Использование локальной чистой зоны уровня 5 ISO

исследование

по запросу

5180,00

Проведение работ на оборудовании в чистой зоне с классом чистоты 5 ISO

Эксперименты по исследованию фотолюминесценции с временным разрешением в диапазоне температур 5-298 К

исследование

по запросу

5180,00

Эксперименты по исследованию кинетики фотолюминесценции с использованием системы дифференциального измерения кинетик в ИК диапазоне c оптическим стробированием флуоресценции в спектральном диапазоне от 720 нм до 1700 нм и автоматизированной гелиевой криостанции замкнутого цикла

Исследование деградационных характеристик лазерных диодов  (ВАХ, ВтАХ) при нормальных условиях

исследование

по запросу

14400,00 (за образец)

Исследование с использованием установки исследования деградационных характеристик оптоэлектронных приборов

Исследование деградационных характеристик лазерных диодов  (ВАХ, ВтАХ) при условиях ускоренного старения

исследование

по запросу

14400,00 (за образец)

Исследование с использованием установки исследования деградационных характеристик оптоэлектронных приборов

Исследования и фотолюминесценции, отражения, пропускания в спектральном диапазоне от 550 нм до 1700 нм в с высоким пространственным и спектральным разрешением

исследование

по запросу

5180,00

Исследование с использованием установки для высокоточного пространственного и спектрального сканирования и визуализации нано- и микрообъектов

Исследования электро- и фотолюминесценции, отражения, пропускания в спектральном диапазоне от 550 нм до 1700 нм в с высоким пространственным и спектральным разрешением

исследование

по запросу

5180,00

Исследование с использованием установки для высокоточного пространственного и спектрального сканирования и визуализации нано- и микрообъектов  и комплекса для исследования наноструктур при электрической импульсной накачке

Исследования фотолюминесценции в спектральном диапазоне от 550 нм до 1700 нм с высоким пространственным и спектральным разрешением в диапазоне температур 5-298 К

исследование

по запросу

5180,00

Исследование с использованием установки для высокоточного пространственного и спектрального сканирования и визуализации нано- и микрообъектов и автоматизированной гелиевой криостанции замкнутого цикла

Исследования вольт- и ватт-амперных характеристик лазерных диодов в импульсном режиме

исследование

по запросу

5180,00

Исследование с использованием установки для измерения вольт- и ватт-амперных характеристик лазерных диодов в импульсном режиме и анализатора оптического спектра

Исследования электрического спектра и электрических сигналов приборов электроники и оптоэлектроники, в том числе исследование шумовых характеристик приборов

исследование

по запросу

5180,00

Исследование с использованием  анализатора спектра и сигналов FSW26

Исследования фотолюминесценции и комбинационного рассеяния в спектральном диапазоне от 340 нм до 1100 нм с высоким пространственным и спектральным разрешением

исследование

по запросу

5180,00

Исследование с использованием  3D сканирующиего лазерного рамановского спектрометра Confotec NR500

Исследования спектров возбуждения люминесценции, отражения, пропускания в спектральном диапазоне от 250 нм до 2200 нм с высоким пространственным и спектральным разрешением

исследование

по запросу

5180,00

Исследование с использованием излучения перестраиваемого монохроматического источника TLS3-X500A

Исследование нелинейно-оптических свойств сред и полупроводниковых наногетероструктур

исследование

по запросу

5180,00

Исследование с использованием излучения системы импульсной лазерной накачки с перестройкой длины волны

Использование установки микросварки для монтажа микрооптоэлектронных компонентов

работы

по запросу

5180,00

Проведение работ ультразвуковой микросварки проволочных перемычек методами клин-клин, шарик-клин и установка отдельных бампов (столбиков) на установке RM-BW (CHANGSHU CATEC ELECTRONIC INTL. LTD.)