Перечень применяемых методик УНУ «КОС»
- Исследование интенсивности фотолюминесценции полупроводниковых гетероструктур.
- Исследование интенсивности электролюминесценции полупроводниковых гетероструктур в непрерывном режиме.
- Исследование интенсивности электролюминесценции полупроводниковых гетероструктур в импульсном режиме.
- Измерение вольт-амперных характеристик в непрерывном и импульсном режимах работы.
- Измерение ватт-амперных характеристик в непрерывном и импульсном режимах.
- Измерение спектров отражения в диапазоне длин волн 400-1700 нм.
- Измерение спектров пропускания в диапазоне длин волн 400-1700 нм.
- Измерение фототока в диапазоне длин волн 400-1700 нм.
- Измерение S-параметров с использованием векторного анализатора цепей.
- Исследование кинетики фотолюминесценции с использованием системы дифференциального измерения кинетик.
- Исследование процессов захвата, релаксации и рекомбинации носителей в активной области полупроводниковых гетероструктур.
- Исследование микрофотолюминесценции нановискеров.
Нашли опечатку?
Выделите её, нажмите Ctrl+Enter и отправьте нам уведомление. Спасибо за участие!
Сервис предназначен только для отправки сообщений об орфографических и пунктуационных ошибках.