Перечень выполняемых типовых работ на уникальной научной установке «Комплексный оптоэлектронный стенд»:
| Наименование услуги | Единица измерения | Время выполнения | Цена за единицу (руб.)/час | Примечание |
| Проведение экспериментов |
|
|
| При проведении экспериментов необходимо присутствие экспертов НИУ ВШЭ-Санкт-Петербург по используемому методу |
| Эксперименты с использованием различных комбинаций систем | исследование | по запросу | 5180,00 | Эксперименты по исследованию фото- и электролюминесценции, отражения, пропускания в спектральном диапазоне от 550 нм до 1700 нм в с высоким пространственным и спектральным разрешением в диапазоне температур 5-298 К. |
| Эксперименты по исследованию частотного отклика оптоэлектронных приборов и устройств | исследование | по запросу | 5180,00 | Исследование частотных характеристик оптоэлектронных приборов и устройств с использованием СВЧ-анализатора цепей до 43,5 ГГц. |
| Эксперименты по исследованию фотолюминесценции образцов | исследование | по запросу | 2600,00
| Эксперименты по исследованию фотолюминесценции образцов с использованием системы импульсной лазерной накачки с перестраиваемой длиной волны и переключаемой длительностью импульсов (спектральный диапазон возбуждения от 700 нм до 980 нм) или с использованием непрерывной накачки YLF:Nd лазером (мощность 100мВт) с помощью системы синхронного детектирования фотолюминесценции. |
| Эксперименты по исследованию фотолюминесценции образцов в диапазоне температур 5-298 К. | исследование | по запросу | 2600,00
| Эксперименты по исследованию фотолюминесценции образцов с использованием автоматизированной гелиевой криостанции замкнутого цикла с помощью системы синхронного детектирования фотолюминесценции. |
| Эксперименты по исследованию фотолюминесценции с временным разрешением в диапазоне температур 5-298 К.. | исследование | по запросу | 5180,00
| Эксперименты по исследованию кинетики фотолюминесценции с использованием системы дифференциального измерения кинетик в ИК диапазоне c оптическим стробированием флуоресценции в спектральном диапазоне от 720 нм до 1700 нм и автоматизированной гелиевой криостанции замкнутого цикла. |
| Исследование деградационных характеристик лазерных диодов (ВАХ, ВтАХ) при нормальных условиях | исследование | по запросу | 14400,00 Цена за образец | Исследование с использованием установки исследования деградационных характеристик оптоэлектронных приборов |
| Исследование деградационных характеристик лазерных диодов (ВАХ, ВтАХ) при условиях ускоренного старения | исследование | по запросу | 14400,00 Цена за образец
| Исследование с использованием установки исследования деградационных характеристик оптоэлектронных приборов |
| Исследования и фотолюминесценции, отражения, пропускания в спектральном диапазоне от 550 нм до 1700 нм в с высоким пространственным и спектральным разрешением. | исследование | по запросу | 5180,00
| Исследование с использованием установки для высокоточного пространственного и спектрального сканирования и визуализации нано- и микрообъектов |
| Исследования электро- и фотолюминесценции, отражения, пропускания в спектральном диапазоне от 550 нм до 1700 нм в с высоким пространственным и спектральным разрешением. | исследование | по запросу | 5180,00
| Исследование с использованием установки для высокоточного пространственного и спектрального сканирования и визуализации нано- и микрообъектов и комплекса для исследования наноструктур при электрической импульсной накачке |
| Исследования фотолюминесценции в спектральном диапазоне от 550 нм до 1700 нм в с высоким пространственным и спектральным разрешением в диапазоне температур 5-298 К.
| исследование | по запросу | 5180,00
| Исследование с использованием установки для высокоточного пространственного и спектрального сканирования и визуализации нано- и микрообъектов и автоматизированной гелиевой криостанции замкнутого цикла. |
| Исследования вольт- и ватт-амперных характеристик лазерных диодов в импульсном режиме. | исследование | по запросу | 5180,00
| Исследование с использованием установки для измерения вольт- и ватт-амперных характеристик лазерных диодов в импульсном режиме и анализатора оптического спектра. |
| Исследования электрического спектра и электрических сигналов приборов электроники и оптоэлектроники, в том числе исследование шумовых характеристик приборов. | исследование | по запросу | 5180,00
| Исследование с использованием анализатора спектра и сигналов FSW26 |
| Исследования фотолюминесценции и комбинационного рассеяния в спектральном диапазоне от 340 нм до 1100 нм с высоким пространственным и спектральным разрешением | исследование | по запросу | 5180,00
| Исследование с использованием 3D сканирующиего лазерного рамановского спектрометра Confotec NR500 |
| Исследования спектров возбуждения люминесценции, отражения, пропускания в спектральном диапазоне от 250 нм до 2200 нм с высоким пространственным и спектральным разрешением. | исследование | по запросу | 5180,00
| Исследование с использованием излучения перестраиваемого монохроматического источника TLS3-X500A |
| Исследование нелинейно-оптических свойств сред и полупроводниковых наногетероструктур | исследование | по запросу | 5180,00
| Исследование с использованием излучения системы импульсной лазерной накачки с перестройкой длины волны |
Нашли опечатку?
Выделите её, нажмите Ctrl+Enter и отправьте нам уведомление. Спасибо за участие!
Сервис предназначен только для отправки сообщений об орфографических и пунктуационных ошибках.